Nouveau E

Microchip Technology a récemment annoncé la carte de démonstration E-Fuse, activée par la technologie du carbure de silicium (SiC), disponible en six variantes pour les systèmes de batterie 400-800 V et avec un courant nominal jusqu'à 30 ampères.

Le démonstrateur E-Fuse peut détecter et interrompre les courants de défaut en quelques microsecondes, 100 à 500 fois plus rapidement que les approches mécaniques traditionnelles en raison de sa conception à semi-conducteurs haute tension. Le temps de réponse rapide réduit considérablement les courants de court-circuit de crête de dizaines de kiloampères à des centaines d'ampères, ce qui peut empêcher qu'un événement de défaut n'entraîne une défaillance matérielle.

« Le démonstrateur E-Fuse fournit aux concepteurs OEM BEV/HEV une solution technologique basée sur SiC pour lancer leur processus de développement avec une méthode plus rapide et plus fiable pour protéger l'électronique de puissance », a déclaré Clayton Pillion, vice-président de l'unité commerciale de carbure de silicium de Microchip. "La conception à semi-conducteurs E-Fuse atténue également les problèmes de fiabilité à long terme concernant les dispositifs électromécaniques, car il n'y a pas de dégradation due aux chocs mécaniques, aux arcs électriques ou aux rebonds de contact."

Grâce à la fonction réinitialisable du démonstrateur E-Fuse, les concepteurs peuvent facilement emballer un E-Fuse dans le véhicule sans le fardeau des contraintes de conception pour l'entretien. Cela réduit les complexités de conception et permet un emballage flexible du véhicule pour améliorer la distribution du système d'alimentation BEV/HEV.

Les équipementiers peuvent accélérer le développement d'applications auxiliaires basées sur SiC avec le démonstrateur E-Fuse grâce à l'interface de communication LIN (Local Interconnect Network) intégrée. L'interface LIN permet la configuration des caractéristiques de déclenchement de surintensité sans qu'il soit nécessaire de modifier les composants matériels, et elle signale également l'état du diagnostic.

Le démonstrateur E-Fuse tire parti de la robustesse et des performances inégalées de la technologie SiC MOSFET de Microchip et des périphériques indépendants du cœur (CIP) des microcontrôleurs PIC® avec une interface basée sur LIN. Les composants associés sont qualifiés pour l'automobile et offrent un nombre de pièces inférieur et une fiabilité supérieure par rapport à une conception discrète.

Les solutions d'alimentation SiC de Microchip offrent le portefeuille de MOSFET, de diodes et de circuits d'attaque de grille le plus large et le plus flexible du secteur en puces nues, discrets, modules et modules d'alimentation personnalisables.